進口SUNX超高速.高精度激光位移傳感器
HiR透鏡
設(shè)計的較適合HDLC-CMOS傳感器的高分辨率透鏡。
采用本公司的光學(xué)仿真技術(shù)，將像差降低到小限度。
 可將任何角度的光線在受光部以小點成像，實現(xiàn)了更高的精度。 
*的光學(xué)配置和光圈結(jié)構(gòu)，實現(xiàn)了發(fā)射強度接近的近似正態(tài)分布的高激光。
另外，通過在投光量調(diào)整功能中采用新的算法，可以瞬時跟蹤受光量的變化，確保投光狀態(tài)始終保持。
超高速計算處理
配備*的算法，可以在達到高精度的同時實現(xiàn)高速度。所有信號都經(jīng)過數(shù)字化高速處理。
傳感器檢測頭
■對應(yīng)「擴散反射」&「正反射」根據(jù)工件表面，在很難選定較適合的傳感器的場合。
即使是在這樣的情況下，只有一臺檢測頭情況下也可以安定的檢測狀態(tài)設(shè)置。
■受檢工件容許傾斜的范圍更寬與以往相比，對傾斜的容許度提高了1.5倍，即使測量時工件發(fā)生變動，也能輕松檢測。 [HL-C203B(-MK)の場合]
■省空間的小型檢測頭小型檢測頭，與本公司以往產(chǎn)品相比，體積比下降了約23%，可以將安裝空間減小到限程度。 [HL-C203B(-MK)の場合]
控制器
■可連接兩個檢測頭可在控制器內(nèi)對各個測量值進行計算。
■豐富的I/O可以連接各種設(shè)備，可以通過這些設(shè)備對記錄的數(shù)據(jù)進行顯示、分析處理，以及對傳感器進行控制。
■無償提供API(Application Programming Interface)可以通過USB連接的電腦使用控制HL-C2的API。還備有樣品程序，有助于編程。

進口SUNX超高速.高精度激光位移傳感器