位移傳感器外徑/內(nèi)徑資料

簡(jiǎn)要描述：位移傳感器外徑/內(nèi)徑資料
型號(hào)
SI-F01
SI-F10
SI-F80
類型
微型傳感頭型傳感頭
長(zhǎng)距離型傳感頭
厚度測(cè)量型傳感頭
測(cè)量范圍
0.05 至 1.1 mm *1
11.3 至 12.35 mm *1
0.05 至 1.1 mm *6
（可實(shí)現(xiàn)的檢測(cè)距離: 80 至 81.1 mm）
測(cè)量用光源
紅外 SLD 波長(zhǎng) 820 nm 輸出 0.6 mW, 1

產(chǎn)品型號(hào)：
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時(shí)間：2023-05-29
訪問(wèn) 量：2453

產(chǎn)品咨詢聯(lián)系我們

產(chǎn)品分類

Product category

相關(guān)文章

外徑 / 內(nèi)徑

這些傳感器測(cè)量圓柱體的外徑。雖然此處用以參考的測(cè)量為單軸，但可進(jìn)行雙軸或更多軸的測(cè)量。
測(cè)量?jī)?nèi)徑有兩種方法：光透式測(cè)量?jī)x器和接觸式測(cè)量?jī)x器。

1D光透法
LS系列

LS系列

此方法測(cè)量目標(biāo)物的外徑。超高速采樣使其還可以測(cè)量外徑和偏轉(zhuǎn)。

選擇要點(diǎn)

測(cè)量穩(wěn)定且具有超高精度
快速、非接觸式測(cè)量
可測(cè)量透明目標(biāo)物

LS-9000系列

超高速/高精度測(cè)微計(jì)
LS-9000系列

2D光透法
TM系列

TM系列

本系列可測(cè)量目標(biāo)物的內(nèi)徑。
由于像投影機(jī)一樣采集物體圖像，因此可實(shí)現(xiàn)多軸測(cè)量和真圓度測(cè)量。

選擇要點(diǎn)

可同時(shí)進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)量
可穩(wěn)定檢測(cè)

TM-3000系列

位移傳感器外徑/內(nèi)徑資料

型號(hào)		SI-F1003V	SI-FA103
獨(dú)立型		SI-F1003/SI-FD500
類型		主控制器一體型	擴(kuò)展控制器^*3
可連接的光譜單元數(shù)		2	1
顯示	zui小顯示單位	0.001 µm	無(wú)
	顯示范圍	±999.999 µm 至 ±9,999.99 mm，(可選 7 種設(shè)定)
	顯示周期	10 次／秒
端子臺(tái)	激光遠(yuǎn)程聯(lián)鎖輸入	無(wú)電壓輸入^*1	無(wú)^*1
	定時(shí) 1 輸入	無(wú)電壓輸入 2^*1
	復(fù)位 1 輸入	無(wú)電壓輸入^*1
	自動(dòng)調(diào)零1 輸入
	激光控制輸入
	模擬電壓輸出	±10 V x 2 輸入，輸出阻抗: 100 ?^*1	±10 V x 1 輸入，輸出阻抗: 100 ?^*1
	模擬電流輸出	4 至 20 mA x 2 輸出，zui大負(fù)載阻抗: 350 ?^*1	4 至 20 mA x 1 輸出，zui大負(fù)載阻抗: 350 ?^*1
	警報(bào)輸出	NPN 開集輸出(N.C.)^*1	無(wú)^*1

分光干涉式晶片厚度計(jì)SI-F80R 系列采用近紅外 SLD，即使已貼附 BG 帶也可測(cè)量晶片本身的厚度。即使晶片表面存在由于圖案而產(chǎn)生的顯著差異，也可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的線上測(cè)量。
分光干涉式晶片厚度計(jì)SI-F80R 系列采用近紅外 SLD，即使已貼附 BG 帶也可測(cè)量晶片本身的厚度。即使晶片表面存在由于圖案而產(chǎn)生的顯著差異，也可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的線上測(cè)量。

產(chǎn)品咨詢